测高仪

  • 产品价格:电议
  • 所 在 地:上海
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  • 更新日期:2011-08-25

商品详情

产 品 说 明
MICRO HITE测高仪
TESA Micro Hite具有自成一体的设计理念,非常适合于一维和两维的集合坐标测量 C 内外长度,高度,深度,阶梯尺寸和距离.
自动搜索*高和*低点的功能及其对*大*小值及其差值的记忆能力使之成为圆形尺寸的测量有效工具.外加TESA 1G- 13(选加附件)则更能按照ISO1101标准测量垂直度,直线度,平行度和端跳.

此测高仪安装在镀镍的坚固底座上,底座上配有三个精密抛光支承,气浮可使测高仪在测量平台上轻松移动.金属光栅尺带有零位参考点,测量头安装在滚珠轴承是哪个,驱动系统可锁定并进行微调(需选加附件).计算机误差补偿更提高了长度,直线度和垂直度的测量精度。
Model/型号规格
TESA MICRO-Hite
350 600 900
测量范围 mm 365 615 920
*大允许误差(带标准附件) (2+3L)um,
(L单位为米/L in m)

重复性(带标准附件) 2s≤2um
运动速度 300mm/s
测量力
机械垂直度 u m <7 <9 <11
主机重量 kg 33 38 45
可充电电池寿命 12小时/12hours



交易记录

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企业名片

  • 上海浦东新区新金桥路1088号1501室

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