普赛斯插卡式设备具有通道密度高、同步触发功能强、多设备组合效率高等特点。普赛斯插卡式主机采用自定义框架,背板总线带宽高达3Gbps,支持16路触发总线,满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡,方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通信支持串口、以太网及GPIB。
为满足客户对子卡数的不同需求,推出了1003CS和1010CS两款主机,1003CS拥有Z高容纳3子卡的插槽,1010CS拥有Z高容纳10子卡的插槽。普赛斯子卡均能放入这两种主机。
CS系列源表子卡是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态、插卡式源表子卡,汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。CS系列源表适用于各行各业使用者,特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。
目前已开发,CS100、CS200、CS300、CS400、CS401、CS402、CBI401、CBI402及CBI403子卡,其中CS100、CS200、CS300为单卡单通道,CS400、CS401、CS402、CBI401、CBI402、CBI403为单卡四通道,卡内4通道共地。使用10插卡主机时,用户可实现高达40通道的配置,用户针对实际情况可以选择不同的子卡实现Z优性价比搭配。插卡式数字源表+多通道测量源表认准普赛斯仪表,详询
产品应用
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纳米材料特性测试,石墨烯、纳米线等
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有机材料特性测试,电子墨水、印刷电子技术等
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能量与效率特性测试,LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
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分立半导体器件特性测试,电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等
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传感器特性测试,电阻率、霍尔效应等
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功率VCSEL及蝶形激光器老化
产品特点
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源及测量的准确度为0.1%
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四象限工作(源和肼),源及测量范围
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单主机可支持10子卡,Z高实现40通道
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灵活的通道触发总线,多子卡高效协同工作
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丰富的扫描模式,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
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支持多种通信接口,RS-232、GPIB及以太网
技术指标
1003C 主机:
插槽数:3通道;
通信口:RS-232、GPIB、以太网;
电源:AC 100~240V 50/60Hz,Z大功率500W;
工作环境:25±10℃;
尺寸:178mm高 × 482mm宽 × 552mm长;
质保期:1年;
1010C 主机:
插槽数:10通道;
通信口:RS-232、GPIB、以太网;
电源:AC 100~240V 50/60Hz,Z大功率1000W;
工作环境:25±10℃;
尺寸:354mm高 × 482mm宽 × 552mm长;
质保期:1年;
武汉普赛斯仪表自主研发的高精度台式数字源表、脉冲式源表、集成插卡式源表、窄脉冲电流源、高精度高压电源等,田补国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺,为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合,帮助用户构建自定义解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台,以及相关技术服务,满足行业对测试效率、测试精度,以及低成本的挑战。详询一八一四零六六三四七六;纳米材料特性测试,石墨烯、纳米线等
有机材料特性测试,电子墨水、印刷电子技术等
能量与效率特性测试,LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
分立半导体器件特性测试,电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等
传感器特性测试,电阻率、霍尔效应等
功率VCSEL及蝶形激光器老化
源及测量的准确度为0.1%
四象限工作(源和肼),源及测量范围
单主机可支持10子卡,Z高实现40通道
灵活的通道触发总线,多子卡高效协同工作
丰富的扫描模式,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持多种通信接口,RS-232、GPIB及以太网