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MICRO HITE测高仪
TESA Micro Hite具有自成一体的设计理念，非常适合于一维和两维的集合坐标测量 C 内外长度，高度，深度，阶梯尺寸和距离.
自动搜索*高和*低点的功能及其对*大*小值及其差值的记忆能力使之成为圆形尺寸的测量有效工具.外加TESA 1G- 13(选加附件）则更能按照ISO1101标准测量垂直度，直线度，平行度和端跳.
此测高仪安装在镀镍的坚固底座上，底座上配有三个精密抛光支承，气浮可使测高仪在测量平台上轻松移动.金属光栅尺带有零位参考点，测量头安装在滚珠轴承是哪个，驱动系统可锁定并进行微调（需选加附件）.计算机误差补偿更提高了长度，直线度和垂直度的测量精度。
Model/型号规格
TESA MICRO-Hite
350 600 900
测量范围 mm 365 615 920
*大允许误差(带标准附件） (2+3L)um,
(L单位为米/L in m）
重复性（带标准附件） 2s≤2um
运动速度 300mm/s
测量力
机械垂直度 u m ＜7 ＜9 ＜11
主机重量 kg 33 38 45
可充电电池寿命 12小时/12hours
测高仪